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X荧光光谱有害元素检测仪
发布时间:2016-11-16

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  Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令)和RoHS法令(限制电器电子产品使用有害物质法令),快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外,通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面,选取所需要的测试点,操作非常简单。

  X射线荧光是一种可对加工材料和部件进行快速、无损扫描的检测技术。分析时间只需要几分钟,灵敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系统的检测***低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 标准的1.2 mm 分析光速可以保证即使是非常小的电子元件和部件也可以***立进行分析。

  XGT-5200WR为WEEE/RoHS, ELV和中***RoHS特别设计,用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高灵敏度测量并带有X射线显微镜功能。

  400μm的X射线光斑,为有害元素的控制提供了高分辨率的扫描分析,适合小到IC集成块单一引脚的分析。同时提供世界***小光斑—10μm (可选配件)。

  SDD检测器极大地提高了分辨率和计数率,且无需使用液氮(LN2)

  无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中,即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动,获取数据分析(包括定性和定量分析,并生成成分组成图像)。将样品放在样品祥中后,只需几秒钟,借助直观的“point and click”选择分析位置,即开始抓取数据。

  样品观察采用同轴几何呈象,可消除视差,您可以绝对相信,看到的样品即是测量的位置。

  仪器装载了两个X射线管,从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束,可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了***低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像,甚至对于不平整样品同样有效。

  通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像,样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息,极有利于对兴趣区域的定位,或了解样本的内部结构。

  主要特征

  一台仪器进行多种分析

  有害元素的扫描分析

  样品位置的简单准确控制

  适用于微观尺寸至宏观尺寸的宽范围样品分析

  XGT可解决各种分析问题和困难

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